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負(fù)載插頭溫升試驗的原理及兩種模式


 負(fù)載插頭溫升試驗是將插頭或插座正負(fù)極短接后,尾部接在電流輸出接線柱上,然后接通電流,按標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)定好所需試驗電流及時間后,測試插頭或插座的插片與導(dǎo)體鉚合處的溫升數(shù)值在經(jīng)過一定的時間及電流負(fù)載溫升數(shù)值是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
 插頭溫升試驗可以記錄6路測試溫度+一路室溫,用U盤溫度數(shù)據(jù),電腦轉(zhuǎn)存EXCEL文檔,觸摸屏控制,測試方式分為間斷測試和連續(xù)測試。間斷測試是0-30000次,連續(xù)測試是0-30000分鐘。
 負(fù)載插頭溫升試驗的兩種模式
 模式一:
(1)通過額定電流;
(2)每隔5分鐘記錄溫度;
(3)當(dāng)連續(xù)三個溫度數(shù)據(jù)顯示穩(wěn)定下來,記錄此溫度與室溫相差即為端子溫升值。
 模式二:
(1)通過額定電流;
(2)以45分鐘負(fù)載及15分鐘無負(fù)載為一循環(huán),在45分鐘負(fù)載后記錄溫度,以及負(fù)載前也需要記錄溫度。

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